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LED蓝宝石晶片测量系统
来源:薄膜压力传感器 | 发布时间:2018/2/17 19:28:38 | 浏览次数:

微观意义ultramap c200a是一个自动化的LED蓝宝石晶片测量系统基于微观意义上的专有双面电容传感技术。系统测量临界基板参数包括厚度、TTV,弓,经厚度变化和局部(LTV)的高吞吐量。的ultramap C200是专为蓝宝石晶片制造商和LED芯片制造商需要更好的晶片几何检测具有更高的测量重复性,相比传统的光学测量系统。

 
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