宽带交钥匙介电谱

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低成本交钥匙介电测试系统，通过无缝集成，测量介电常数（电容）和损耗因数，作为温度的函数：

高精度LCR计（阻抗分析仪），宽频率范围（20 Hz至1 MHz或110 MHz，或0.01 Hz至1 MHz，与使用的LCR计类型有关）

独特的五通道测试夹具，可测量100 pF样品的损耗系数低至0.05%。

带液氮冷却的温度箱，-180℃至250℃，等温试验或加热/冷却斜坡试验

执行自动测试和数据保存的计算机程序。

虽然一些商业测试系统对年轻研究人员来说可能昂贵得令人望而却步（10万美元），但如果客户愿意使用翻新的高质量LCR仪表（如传说中的HP/Agilent 4284A 20 Hz至1 MHz），我们的测试系统损耗很低，并且可以显著降低。

五通道功能对于正在开发介电材料并希望快速测量介电常数和损耗因数（作为温度和频率的函数）以执行成分优化的客户来说非常重要。

对于有兴趣在宽频率范围内研究介电弛豫过程的客户，我们还提供了第二个测试系统，可以将频率范围扩展到0.01（0.1）Hz至1 MHz，但价格仍然合理。