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极化回路与高压介质击穿
来源:薄膜压力传感器 | 发布时间:2021/8/19 22:35:46 | 浏览次数:

极化回路与高压介质击穿

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一种低成本、用户友好的测试系统,用于测量电介质和铁电材料的电荷密度随电场和/或温度的变化。

功能

该测试系统可以测量电介质和铁电材料的电荷密度随电场和频率的变化。该测试基于改进的有源索耶塔电路。

该系统具有集成保护电路,即使试样在高压下发生介质击穿,也能对系统进行保护。

使用TrekÒ高压放大器,可在电压>10 kV和频率高达200 Hz的条件下进行测试。不需要高压接口。

介质击穿测试也可以通过简单地改变电气和信号连接,在相同的测试系统中进行。

独特设计的测试夹具不会损坏柔软的聚合物电介质材料。

能力

电压:>10千伏

电荷:<1 nC至>1 mC(取决于放大器输出)

测试频率:0.01~200 Hz

该测试系统已被美国、泰国、澳大利亚和中国的十多所大学使用。

 

 
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